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  • TES-4555半导体集成电路芯片颁丑颈濒濒别谤,芯片测试用
    半导体集成电路芯片颁丑颈濒濒别谤,芯片测试用

    半导体集成电路芯片颁丑颈濒濒别谤,芯片测试用的典型应用： 适合元器件测试用设备，在用于恶劣环境的半导体电子元件的制造中，IC封装组装和工程和生产的测试阶段包括在温度（-85℃至+ 250℃）下的电子冷热测试和其他环境测试模拟。

    更新时间：2025-01-07

    厂商性质：生产厂家

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